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SNJ54BCT8374AFK

零件编号： SNJ54BCT8374AFK
产品分类： 专业逻辑
制造商： Texas Instruments
描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
封装：
包装： 管子
数量： 0
RoHS 状态： YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包装管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)

Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ112V
RES SMD 1.1K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ242V
RES SMD 2.4K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ152V
RES SMD 1.5K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ302V
RES SMD 3K OHM 5% 1/8W 0805
Roving Networks (Microchip Technology)
93LC46/SN
IC EEPROM 1KBIT MICROWIRE 8SOIC
Omron Electronic Components
EE-SY410
SENSOR OPT REFLECTIVE 5MM 5DIP
Sullins Connector Solutions
PTC01SFDN
CONN HEADER VERT 1POS
Sullins Connector Solutions
PZC01SABN
CONN HEADER VERT 1POS
Sullins Connector Solutions
PZC01DABN
CONN HEADER VERT 2POS
Sullins Connector Solutions
PZC01DBBN
CONN HEADER R/A 2POS
关闭
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